Eindhoven kenti, kökleri geçen yüzyılın ortalarına, Philips Electron Optics'e uzanan geçmişiyle elektron mikroskobunun en önemli merkezlerinden biridir. Semplor 2021 yılında bu kentte, elektron mikroskopisi alanında uzmanlaşmış bir ekip tarafından kurulmuştur. Saygın elektron mikroskobu üreticileri için çalışmış ve toplamda 200 yılı aşkın deneyime sahip bu ekip, tüm yaratıcılıklarını, mühendislik ve teknoloji birikimlerini kullanarak önce NANOS ve sonrasında ONYX'i tasarlamış ve geliştirmiştir.
< 8 nm Çözünürlük
220 mm'lik Örnek Haznesi
Entegre EDS
ONYX, ileri SEM teknolojisini kompakt ve kullanıcı dostu bir tasarımda buluşturarak hızlı, yüksek kaliteli görüntüleme ve hassas elementel analiz olanağı sunar.
Sınıfının en büyük numune tablası sayesinde büyük numunelerden çoklu numune analizlerine kadar geniş bir uygulama yelpazesinde yüksek esneklik sağlar. Ar-Ge, kalite kontrol, endüstriyel uygulamalar, araştırma ve eğitim laboratuvarları için güçlü ve pratik bir SEM çözümüdür.
ONYX ile gelişmiş SEM analizlerine doğrudan kendi laboratuvarınızda erişebilirsiniz. Böylece harici SEM hizmetlerine olan ihtiyacı azaltabilir, analizlerinizi beklemeden gerçekleştirebilir ve sonuçlara çok daha hızlı ulaşabilirsiniz.
Kompakt tasarımı, yüksek sistem kararlılığı ve özel bir altyapı gerektirmemesi sayesinde ONYX, mevcut laboratuvarınıza kolayca entegre olur ve güçlü SEM performansını günlük analizlerinizin bir parçası haline getirir.
220 × 220 mm
Hazne boyutu
50 mm'ye kadar
Maksimum numune yüksekliği
110 × 110 mm
XY tabla hareket mesafesi
ONYX'in geniş numune tablası, büyük parçaların ve birden fazla numunenin tek bir kurulumda analiz edilmesine olanak tanır. 110 × 110 mm motorize numune tablası, 64 adede kadar yarım inçlik SEM numune stub'ını destekleyerek verimli ve yüksek numune kapasiteli iş akışları için gerekli esnekliği sağlar.
ONYX masaüstü SEM, düşük sahip olma maliyetiyle yüksek çözünürlüklü SEM görüntüleme sunarken, entegre Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS) sayesinde hızlı ve doğru elementel analiz olanağı sağlar.
Yüksek performanslı SE ve 4 segmentli BSE dedektörleri; üstün yüzey detayları, kompozisyon kontrastı ve karma mod görüntüleme sağlar.
Şarjlanmayı azaltma
İletken olmayan numuneler için düşük vakumda görüntüleme
Düşük demet enerjisinde görüntüleme
1 kV'a kadar düşük hızlandırma voltajlarında yüksek kaliteli görüntüleme
Topografik mod
Yüzey topografisinin gelişmiş şekilde görüntülenmesi
Kullanıcı Tarafından Değiştirilebilir Elektron Kaynağı
Cihazın kullanım dışı kalma süresini en aza indirir ve maliyetli kaynak değişimi ihtiyacını ortadan kaldırır.
Semplor'un Discover EDS yazılımı; SEM görüntüleme, elementel analiz ve raporlamayı tek ve sezgisel bir yazılım paketi içerisinde bir araya getirerek hızlı, güvenilir ve verimli analitik iş akışları sağlar.
| Enerji çözünürlüğü | <129 eV |
| Tespit edilebilir element aralığı | B (5) – Am (95) |
Discover EDS Yazılımı ile Sezgisel Kullanım
Canlı spektrum
Spektrumları adlandırıp kıyaslama
Elementel haritalama
Satır tarama
Semplor Explore App, standart SEM görüntülemeyi gelişmiş malzeme karakterizasyonuna dönüştürür. Partikül, fiber ve 3D analizleri doğrudan ONYX masaüstü SEM'inize entegre eder.
ONYX kullanıcı arayüzüyle tamamen entegre çalışan bu opsiyonel modüllere yalnızca tek tıklamayla erişilebilir. Böylece SEM çalışma ortamından ayrılmadan kesintisiz ve verimli bir iş akışı sağlanır ve analiz sorularınıza hızlı yanıtlar elde edilir.
Birbirine temas eden partiküller dahil olmak üzere partikülleri, gözenekleri veya taneleri algılar, ölçer ve sınıflandırır. Boyut, şekil ve sayı verileri sunar ve dışa aktarılabilir istatistiksel raporlar oluşturur.
Üst üste binen fiberler dahil olmak üzere fiber çapını, yönelimini ve eğriliğini ölçer. Raporlama amacıyla dışa aktarılabilen fiber yönelim ve gözenek istatistikleri oluşturur.
SEM görüntülerinden 3D rekonstrüksiyonlar ve yükseklik haritaları oluşturur. Stereo görüntü çifti, dört segmentli BSE veya tek görüntü yöntemlerini kullanarak yüzeye ilişkin hem görsel hem de kantitatif veriler sağlar.
| TEKNİK ÖZELLİKLER | ||
| GÖRÜNTÜLEME MODU | Optik | 0,7 & 2,5 – 12,5x'a kadar |
| SEM | Büyütme aralığı: 100 – 200.000x | |
| Çözünürlük | <8 nm | |
| AYDINLATMA | SEM | Optimize edilmiş termiyonik kaynak (tungsten) |
| Optik | Aydınlık alan | |
| Hızlandırma voltajı | 1, 2, 5, 7, 10, 15 ve 20kV | |
| DEDEKTÖR |
İkincil Elektron Dedektörü (SED) Geri Saçılım Elektron Dedektörü (BSD) – 4 segmentli Enerji Dağılımlı Spektroskopi Dedektörü (EDS) – entegre |
|
| DİJİTAL GÖRÜNTÜ TESPİTİ | Optik | Renkli navigasyon kamerası |
| GÖRÜNTÜ FORMATLARI | JPEG, TIFF, PNG, BMP | |
| KULLANICI ARAYÜZÜ |
İletişim, görüntüleme ve analiz işlemleri tek bir monitör üzerinde, fare ve klavye ile Uzaktan kontrol ve arıza tespit olanağı Temel ve ileri modlar |
|
| VERİ SAKLAMA | Ağ, USB, iş istasyonu | |
| NUMUNE TUTUCU |
Bilgisayar kontrollü motorlu X, Y: 110mm x 110mm |
|
| VAKUM ODASI |
220mm x 220mm |
|
| EDS DEDEKTÖR ÖZELLİKLERİ | Dedektör tipi | Silikon Sürüklenme Dedektörü (SDD), termo-elektrik soğutmalı |
| Dedektör aktif alanı | 30mm2 | |
| Enerji çözünürlüğü | @ Mn Kα < 129eV | |
| Maks. giriş sayım hızı | 300,000cps | |
| Çıkış açısı | 30˚ | |
| Donanım entegrasyonu | Tam gömülü | |
| YAZILIM |
Entegre NANOS kullanıcı arabirimi EDS nokta, satır analizi ve haritalama Dışa aktarım fonksiyonları |
|
| SİSTEM ÖZELLİKLERİ | Ana ünite | 420mm x 605mm x 625mm |
| Ağırlık | 95kg | |
| Pompalar |
Pfeiffer turbo moleküler pompa |
|
| Vakum modları | Yüksek vakum ve Düşük vakum (40Pa) modları | |
| İş istasyonu | Konfigüre edilmiş "all-in-one" PC ve 27” monitör SEM görüntüleme ve EDS Analiz yazılımı yüklü olarak |
|
| ÇEVRE KOŞULLARI | Çalışma Ortam Sıcaklığı | 15˚C - 25˚C |
| Nem | %20 - 80rH | |
| Rakım | 2000m'ye kadar | |
| Güç gereksinimi | 110W (en fazla 140W) |